大容量可控硅的测量问题

引用详细内容：

如果想准确测试可控硅的好坏，需要专门的仪器，比如晶闸管测试仪。

但生产现场通常没有这样的仪器，不过，怎么也得有块万用表。这种情况下，只能做简单测试，比如，测一下门极及阴极间的电阻（通常在10欧以上，50欧以下。这个要看可控硅的出厂测试单。通常一个厂生产的同一个批次的这个参数相差不大，在几欧之内；如果小于10欧，或者开路，就危险了）；测试一下阳\阴极之间的电阻，看是否短路；这个参数，用万用表测，应该是开路状态。

或者自己动手做一个简单的触发及导通电路，判断导通与关断是否可靠。

但是通常加不上高电压，没办法测试在高压状态下是否能可靠关断及导通。

引用3楼详细内容：

    最近修复了一台同步机的励磁部分，可控硅参数是1600V 800A，其他的看不清楚了。直流电压正常，但是励磁电流为正常值的三分之一，机组负载加不上去。上述我办法采用了，测量都是35M欧效果不明显，最后我采用版主说的使用自制电路测量，首先测量运行时三相电流分别是，100A，150A，200A。设备额定电流300A，直流电压正常，但是励磁电流为正常值的三分之一，机组负载加不上去。根据电流判断A相可控硅导流能力下降，自制电流时使用3节1号电池串联，正极接门极，负极接阴极，使用万用表测量阳极和阴极之间的导通状况，测得A相门极加电时和不加电时 相同为35M欧。B相门极加电时为16K欧，不加电时 为35M欧。C相门极加电时为10K欧和不加电时为35M欧。这时判断A相可控硅损坏，更换后设备运行正常。

   我想对于大型电力可控硅，常规的测试办法可以使用，但是对于状态较差的可控硅，就不是那么好测量的了，由于备件少只有两个所以我只能检测坏掉的那个更换，其实稳妥的办法是整组的更换。

引用详细内容：

如果想准确测试可控硅的好坏，需要专门的仪器，比如晶闸管测试仪。

但生产现场通常没有这样的仪器，不过，怎么也得有块万用表。这种情况下，只能做简单测试，比如，测一下门极及阴极间的电阻（通常在10欧以上，50欧以下。这个要看可控硅的出厂测试单。通常一个厂生产的同一个批次的这个参数相差不大，在几欧之内；如果小于10欧，或者开路，就危险了）；测试一下阳\阴极之间的电阻，看是否短路；这个参数，用万用表测，应该是开路状态。

或者自己动手做一个简单的触发及导通电路，判断导通与关断是否可靠。

但是通常加不上高电压，没办法测试在高压状态下是否能可靠关断及导通。

引用6楼详细内容：

这个情况，既然可以在线测量，就没有必要测量门极这么麻烦。可以先测量每一只管子的正反向阻值，分别是a.b.c输入端对正极的正反向阻抗，和a.b.c输入端对负极的正反向阻抗，这样一般就判断出来了。如果还不放心，可以加电测量每组晶闸管的压降，看哪只压降大就换哪只。

引用3楼详细内容：

    最近修复了一台同步机的励磁部分，可控硅参数是1600V 800A，其他的看不清楚了。直流电压正常，但是励磁电流为正常值的三分之一，机组负载加不上去。上述我办法采用了，测量都是35M欧效果不明显，最后我采用版主说的使用自制电路测量，首先测量运行时三相电流分别是，100A，150A，200A。设备额定电流300A，直流电压正常，但是励磁电流为正常值的三分之一，机组负载加不上去。根据电流判断A相可控硅导流能力下降，自制电流时使用3节1号电池串联，正极接门极，负极接阴极，使用万用表测量阳极和阴极之间的导通状况，测得A相门极加电时和不加电时 相同为35M欧。B相门极加电时为16K欧，不加电时 为35M欧。C相门极加电时为10K欧和不加电时为35M欧。这时判断A相可控硅损坏，更换后设备运行正常。

   我想对于大型电力可控硅，常规的测试办法可以使用，但是对于状态较差的可控硅，就不是那么好测量的了，由于备件少只有两个所以我只能检测坏掉的那个更换，其实稳妥的办法是整组的更换。

引用详细内容：

如果想准确测试可控硅的好坏，需要专门的仪器，比如晶闸管测试仪。

但生产现场通常没有这样的仪器，不过，怎么也得有块万用表。这种情况下，只能做简单测试，比如，测一下门极及阴极间的电阻（通常在10欧以上，50欧以下。这个要看可控硅的出厂测试单。通常一个厂生产的同一个批次的这个参数相差不大，在几欧之内；如果小于10欧，或者开路，就危险了）；测试一下阳\阴极之间的电阻，看是否短路；这个参数，用万用表测，应该是开路状态。

或者自己动手做一个简单的触发及导通电路，判断导通与关断是否可靠。

但是通常加不上高电压，没办法测试在高压状态下是否能可靠关断及导通。

引用15楼详细内容：

又学到一种测量方法，之前考虑过，但是由于电流非常大，虽然原理上是安全的，但是，但是，我还是胆子小啊，说实话我不赞成带电测量，虽然也带电干过不少次，但是我还是尽量不带电工作，你的办法我赞同，电气嘛越来越胆子小哈哈。

引用6楼详细内容：

这个情况，既然可以在线测量，就没有必要测量门极这么麻烦。可以先测量每一只管子的正反向阻值，分别是a.b.c输入端对正极的正反向阻抗，和a.b.c输入端对负极的正反向阻抗，这样一般就判断出来了。如果还不放心，可以加电测量每组晶闸管的压降，看哪只压降大就换哪只。

引用3楼详细内容：

    最近修复了一台同步机的励磁部分，可控硅参数是1600V 800A，其他的看不清楚了。直流电压正常，但是励磁电流为正常值的三分之一，机组负载加不上去。上述我办法采用了，测量都是35M欧效果不明显，最后我采用版主说的使用自制电路测量，首先测量运行时三相电流分别是，100A，150A，200A。设备额定电流300A，直流电压正常，但是励磁电流为正常值的三分之一，机组负载加不上去。根据电流判断A相可控硅导流能力下降，自制电流时使用3节1号电池串联，正极接门极，负极接阴极，使用万用表测量阳极和阴极之间的导通状况，测得A相门极加电时和不加电时 相同为35M欧。B相门极加电时为16K欧，不加电时 为35M欧。C相门极加电时为10K欧和不加电时为35M欧。这时判断A相可控硅损坏，更换后设备运行正常。

   我想对于大型电力可控硅，常规的测试办法可以使用，但是对于状态较差的可控硅，就不是那么好测量的了，由于备件少只有两个所以我只能检测坏掉的那个更换，其实稳妥的办法是整组的更换。

引用详细内容：

如果想准确测试可控硅的好坏，需要专门的仪器，比如晶闸管测试仪。

但生产现场通常没有这样的仪器，不过，怎么也得有块万用表。这种情况下，只能做简单测试，比如，测一下门极及阴极间的电阻（通常在10欧以上，50欧以下。这个要看可控硅的出厂测试单。通常一个厂生产的同一个批次的这个参数相差不大，在几欧之内；如果小于10欧，或者开路，就危险了）；测试一下阳\阴极之间的电阻，看是否短路；这个参数，用万用表测，应该是开路状态。

或者自己动手做一个简单的触发及导通电路，判断导通与关断是否可靠。

但是通常加不上高电压，没办法测试在高压状态下是否能可靠关断及导通。